玻璃鍍膜怎樣測量?

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  • 2023-01-02

玻璃鍍膜怎樣測量?化學成分黨 2021-12-01

。防止漆面氧化、老化作用,真正的玻璃鍍膜不含石油成份,而且施工後會在車漆表面形成堅硬的無機(玻璃晶體)膜層,與車漆緊密結合,永不脫落。將車漆與空氣完全隔絕,能有效防止外界因素導致的車漆氧化、變色等。耐高溫。玻璃晶體本身具有。。。

2。耐腐蝕。堅硬的非有機(玻璃晶體)膜層自身不會氧化的同時也防止外界的酸雨、飛蟲、鳥糞等對車漆的腐蝕緻密的玻璃晶體膜具有超強抗腐蝕性,鍍膜能有效防止酸雨等腐蝕性物質對車漆造成的損害,同時防止車漆的褪色。易清洗。電離子鍍膜具有。。。

玻璃鍍膜怎樣測量?慶歌什麼都知道 2021-12-01

如何檢測電鍍層厚度 常用方法介紹

為了提高螺絲在使用過程中的硬度指標,在使用之前需要對螺絲進行鍍層厚度,當鍍層厚度完畢後,我們需如何檢查其質量是否符合呢?如何檢測電鍍層厚度呢?下面就介紹幾種常用的方法。

1、量具法

所用量具有千分尺、遊標卡尺、塞規等。

2、磁性法

磁性法測量鍍膜層厚度,是用磁性測厚儀對磁性基體上的非磁性鍍膜層進行的非破壞性測量。

3、顯微鏡法

顯微鏡法有稱為金相法,它是將經過浸蝕的緊韌體,放在具有測微目鏡的金相顯微鏡上放大,測量斷面上鍍層的厚度。

4、計時液流法

計時液流法是用能使鍍層溶解的溶液流注在鍍層的區域性表面上,根據區域性鍍層溶解完畢所需要的時間,來計算鍍層的厚度。還有鍍層點滴法、陽極溶解庫侖法等。

我們發現快樂的人都是那麼優雅。事實上,優雅的舉止人人都可以獲得。當我們對於自己的一言一行十分在意的時候,一個人的優雅就很自然地產生了。優雅使一個人從容大度,帶給人的快樂無處不在。

心靈的寬闊是快樂的心情所必須的。為人應該慷慨大度,應該有讓朋友分享成果的心胸。只有這樣,你才會具有高尚的人格力量。你會發現,當你慷慨地讓朋友分享你的麵包時,你面前的咖啡杯已經被你的朋友加滿了。

不滿可以督促自己不斷進步,但是如果一個人總是讓自己處於不滿的狀態中,就必然心力疲憊,痛苦煩惱。所以,必須要擁有滿足的感覺。滿足感就是肯定自己,就是讚美自己,就是放鬆自己,就是在希望和現實之間建立一種美好的和諧。有了這種和諧,快樂就是輕而易舉的了。

對於生活應該常懷感激、尊敬和欣賞。欣賞大自然的種種美好,欣賞別人的種種優點,感激生活中自己的幸運,感激朋友的無私幫助,尊重別人的種種成就。學會了尊敬,就是學會了欣賞;學會了欣賞,就是學會了確認生活的美好和價值,快樂的心情也就時刻在你的心中了。

還有最重要的,就是具備仁慈之心。什麼是仁慈?就是對人的善意、諒解、寬容、同情和憐憫。我們會發現生活中很多人並沒有什麼事業上的成就,但他們卻備受尊敬,臉上時刻都洋溢著明媚的光輝,他們盡情地享受著生活的幸福和快樂。原因是他們都有善良的仁慈之心。仁慈之心使別人與他們很好相處,使他們做人輕鬆而自如。

平和寧靜的心態也是十分重要的,只有經常放鬆自己,才能夠不斷減緩自己的壓力,擁有寧靜的心情。擁有了平和寧靜的心態,才有可能充分開發利用自己的心智,走向更加寬闊的境界。

當這些素質融入到我們生命中的時候,我們就會擁有快樂的心情。

玻璃鍍膜怎樣測量?林哈哈哈02 2021-12-01

如何檢測電鍍層厚度 常用方法介紹

為了提高螺絲在使用過程中的硬度指標,在使用之前需要對螺絲進行鍍層厚度,當鍍層厚度完畢後,我們需如何檢查其質量是否符合呢?如何檢測電鍍層厚度呢?下面就介紹幾種常用的方法。

1、量具法

所用量具有千分尺、遊標卡尺、塞規等。

2、磁性法

磁性法測量鍍膜層厚度,是用磁性測厚儀對磁性基體上的非磁性鍍膜層進行的非破壞性測量。

3、顯微鏡法

顯微鏡法有稱為金相法,它是將經過浸蝕的緊韌體,放在具有測微目鏡的金相顯微鏡上放大,測量斷面上鍍層的厚度。

4、計時液流法

計時液流法是用能使鍍層溶解的溶液流注在鍍層的區域性表面上,根據區域性鍍層溶解完畢所需要的時間,來計算鍍層的厚度。還有鍍層點滴法、陽極溶解庫侖法等。其次鍍膜的面朝太陽是看不到背面的物體,沒有鍍膜的面能看到背後的物體。中空鍍膜是有一層玻璃鍍膜的,不需要雙層都鍍膜,雙玻中空鍍膜的表面在室外,不要朝室內,很多不知道的會放在室內,那樣,看起來效果不好。沒有玻璃幕牆的和華麗的感覺了。通明白玻璃在室內。

玻璃鍍膜怎樣測量?嫵媚315 2021-12-01

一種測量鍍膜玻璃薄膜光學引數的方法

文件序號:6113280

導航: X技術> 最新專利>測量裝置的製造及其應用技術

專利名稱:一種測量鍍膜玻璃薄膜光學引數的方法

技術領域:

本發明涉及一種測量鍍膜玻璃薄膜光學引數的方法,尤其涉及利用可見光透射、反射光譜擬和來獲得薄膜光學引數的方法,屬於材料加工工程引數測量領域。

背景技術:

鍍膜玻璃是在玻璃表面塗鍍一層或多層金屬、金屬氧化物或其他無機材料,以改變玻璃的光學效能,滿足某些特定要求。因此測量鍍膜玻璃薄膜的光學引數,即厚度、折射率和消光係數,對於檢測鍍膜玻璃質量、改善鍍膜控制工藝、提高鍍膜玻璃效能,實現薄膜效能與工藝引數互動的自動化控制以及膜層與效能的最佳化設計都具有重要的現實意義。

有多種方法可以用來測量薄膜的光學引數,尤以光學方法最為普遍,例如干涉法、橢偏法、反射光譜和透射光譜法。干涉法能夠利用光譜曲線上出現的多個峰谷值較為方便的估算薄膜的厚度和折射率,但是薄膜厚度一般要在幾百奈米以上才會出現多個干涉峰谷,因此對於膜層厚度一般為一百奈米左右的鍍膜玻璃,如陽光控制鍍膜玻璃,則不適用。橢偏法的測量結果快速準確,但是測量手段複雜,實驗條件要求苛刻,成本較高。

發明內容

本發明的目的是提供一種簡單易行,適用範圍廣,受外界影響小的測量鍍膜玻璃薄膜光學引數的方法。

為了實現上述目的,本發明技術解決方案的思路是建立薄膜光學引數與鍍膜玻璃透射、反射光譜的數學關係,獲得問題的數學模型,透過求解數學模型獲得鍍膜玻璃薄膜光學引數。

具體步驟如下測量鍍膜玻璃在可見光垂直入射狀態下的透射和反射光譜,分別記為Tm、Rm,利用矩陣法獲得垂直入射狀態下的薄膜透射和反射光譜關於n、k和薄膜厚度h的引數式,記為Tc(n,k,h)、Rc(n,k,h),並將n和k展開為入射光波長λ的函式,建立Tc(n,k,h)、Rc(n,k,h)與Tm、Rm最小二乘形式的擬和引數式,如式(1)所示,f(n,k,h)=Σλ[(Tc(n,k,h)-Tm)2+(Rc(n,k,h)-Rm)2]——-(1)]]>

求解式(1),得到使f(n,k,h)為最小值的一組引數n,k和h,就是測量獲得的鍍膜玻璃薄膜光學引數。

求解式(1),可以採用傳統的迭代方法。由於薄膜光學計算涉及大量的非線性元,為了快速準確的求解式(1),以採用模擬退火法和牛頓迭代法相結合的兩步法來求解為好,具體步驟如下1)使用模擬退火法在較弱收斂條件下求解式(1),獲得一組引數n,k和h的值;2)以步驟1)獲得的n,k和h作為牛頓迭代法的計算初值,再次求解式(1);3)重複步驟1)、2)M次,M=1,2,…正整數,在獲得M個結果中,獲取使f(n,k,h)值最小的一組引數n,k和h。

本發明使用垂直入射條件下測量獲得的透射、反射光譜,測量結果受外界影響小,測量值穩定。模型建立簡單可靠,測試方法成本低廉,是一種有效的測量薄膜光學引數的手段。

圖1是鍍膜玻璃結構示意圖;圖2是垂直入射狀態下的鍍膜玻璃可見光透射Tm和反射光譜Rm曲線及擬和的Tc和Rc曲線;圖3是使用本發明所述方法獲得的樣品折射率n和消光係數k的曲線。

具體實施例方式

下面結合附圖和例項對本發明做進一步詳細說明。

以線上陽光控制鍍膜玻璃為例,膜層1為矽系薄膜,襯底2為普通白玻,如附圖1所示,圖中I為入射光,R為反射光,T為透射光。測量鍍膜玻璃垂直入射狀態下的可見光透射Tm和反射光譜Rm如圖2所示,圓點與方塊點分別表示Tm和Rm。矩陣法計算垂直入射到薄膜表面光線的透射率Tc和反射率Rc如下公式Tc(λ)=4nsn0|n0(cos(2πhn′λ)+insn′sin(2πhn′λ))+nscos(2πhn′λ)+in′sin(2πhn′λ)|2——-(2)]]>Rc(λ)=|n0(cos(2πhn′λ)+insn′sin(2πhn′λ))-nscos(2πhn′λ)+in′sin(2πhn′λ)|2|n0(cos(2πhn′λ)+insn′sin(2πhn′λ))+nscos(2πhn′λ)+in′sin(2πhn′λ)|2——-(3)]]>其中空氣折射率no和玻璃折射率ns,n’是薄膜複數形式折射率,即n’=n-ik,h為薄膜厚度。對矽系薄膜採用Forouhi-Bloomer模型將n和k展開為入射光子能量E的函式n(E)=n(∞)+B0E+C0E2-BE+C]]>k(E)=A(E-EG)2E2-BE+C——-(4)]]>其中B0=AQ[-12B2+EGB-EG2+C]]]>C0=AQ[12B(EG2+C)-2EGC]——-(5)]]>Q=12(4C-B2)1/2]]>式中A、B、C、EG是常數,而且4C-B2>0。E是入射光子能量,有E=2πq/λ,q為普朗克常數。n(∞)是E無限大時的折射率。

以最小二乘形式構建Tc、Rc和Tm、Rm的曲線擬合引數式,如式(1)所示,f(n,k,h)=Σλ[(Tc(n,k,h)-Tm)2+(Rc(n,k,h)-Rm)2]——-(1)]]>將公式(2-5)以及Tm和Rm代入式(1)就得到完整的曲線擬和問題的數學形式,其中常數A、B、C、EG、n(∞)、h為待定引數。

模擬退火法中,待定引數的初值任意選取,如取A=0,B=2,C=2,EG=0,n(∞)=1。5,h=100,以隨機抽樣產生待定引數值的擾動,在較弱收斂條件下進行全域性最佳化計算,如連續100次隨機抽樣沒有獲得更優待定引數值則結束計算。將模擬退火法獲得的待定引數值作為初值,使用牛頓迭代法針對式(1)的曲線擬和問題進行區域性最佳化計算,獲得更優的待定引數值。重複上述計算過程24次,從中選擇使f(n,k,h)值最小的一組引數作為最終的擬和結果,得到A=4。30,B=2。49,C=38。02,EG=0。68,n(∞)=2。43,h=126。92nm,對應的透射、反射光譜擬和曲線如圖2中實線所示。將A、B、C、EG、n(∞)等引數代入公式(4),獲得薄膜的折射率n和消光係數k,如圖3所示。該樣品使用橢偏儀測量其厚度為118。28nm,與本發明的測量值偏差6。8%。

權利要求

1。一種測量鍍膜玻璃薄膜光學引數的方法,其特徵是步驟如下測量鍍膜玻璃在可見光垂直入射狀態下的透射和反射光譜,分別記為Tm、Rm,利用矩陣法獲得垂直入射狀態下的薄膜透射和反射光譜關於n、k和薄膜厚度h的引數式,記為Tc(n,k,h)、Rc(n,k,h),並將n和k展開為入射光波長λ的函式,建立Tc(n,k,h)、Rc(n,k,h)與Tm、Rm最小二乘形式的擬和引數式,如式(1)所示,f(n,k,h)=Σλ[(Tc(n,k,h)-Tm)2+(Rc(n,k,h)-Rm)2]——-(1)]]>求解式(1),得到使f(n,k,h)為最小值的一組引數n,k和h,就是測量獲得的鍍膜玻璃薄膜光學引數。

2。根據權利1所述的測量鍍膜玻璃薄膜光學引數的方法,其特徵是求解式(1)採用模擬退火法和牛頓迭代法相結合的兩步法求解,具體步驟如下1)使用模擬退火法在較弱收斂條件下求解式(1),獲得一組引數n,k和h的值;2)以步驟1)獲得的n,k和h作為牛頓迭代法的計算初值,再次求解式(1);3)重複步驟1)、2)M次,M=1,2,…正整數,在獲得M個結果中,獲取使f(n,k,h)值為最小的一組引數n,k和h。

全文摘要

本發明涉及一種測量鍍膜玻璃薄膜光學引數的方法,包括如下步驟建立薄膜厚度h、折射率n、消光係數k與薄膜透射率、反射率的函式關係,與實測鍍膜玻璃的可見光透射、反射光譜聯立構成曲線擬和問題,利用模擬退火法、牛頓迭代法相結合的兩步法求解這個曲線擬和問題,從而獲得薄膜光學引數的測量結果。本發明與已有的相應技術相比,更適於鍍膜玻璃薄膜的測量,具有快速準確的測量效果,測量結果穩定,而且方法簡便易行,成本低廉。

文件編號G01M11/02GK1963460SQ20061005395

公開日2007年5月16日 申請日期2006年10月25日 優先權日2006年10月25日

發明者韓高榮, 劉湧, 宋晨路, 汪劍勳, 劉軍波, 劉起英 申請人:浙江大學

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