使用透射電鏡能否觀察晶體缺陷?為什麼?
- 2022-01-09
高分辨透射電鏡(HTEM)能夠完成這樣的要求。
其一如樓上所說,電子非常短的德布羅意波長給予TEM非常高的解析度,0。1-0。2nm的小於原子之間的距離。其二是透射電鏡類似於X光,重元素會更多的吸收入射的電子,在投影儀上留下一個暗斑,晶體缺陷導致原子位置的錯位,可以在照片上看到它的影響。
下面是一張HTEM的圖片,很明顯,如果帶有晶體缺陷,在圖片裡必然能看到不同的原子陣列。譬如圖片中間黑暗部分所示的情況:
下一篇:把照片貼在風景圖片上用什麼軟體