使用透射電鏡能否觀察晶體缺陷?為什麼?

  • 作者:由 匿名使用者 發表于 攝影
  • 2022-01-09

使用透射電鏡能否觀察晶體缺陷?為什麼? 匿名使用者 1級 2014-03-02 回答

高分辨透射電鏡(HTEM)能夠完成這樣的要求。

其一如樓上所說,電子非常短的德布羅意波長給予TEM非常高的解析度,0。1-0。2nm的小於原子之間的距離。其二是透射電鏡類似於X光,重元素會更多的吸收入射的電子,在投影儀上留下一個暗斑,晶體缺陷導致原子位置的錯位,可以在照片上看到它的影響。

下面是一張HTEM的圖片,很明顯,如果帶有晶體缺陷,在圖片裡必然能看到不同的原子陣列。譬如圖片中間黑暗部分所示的情況:

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